掃描離子電導(dǎo)顯微鏡 (SICM)

該掃描離子電導(dǎo)顯微鏡 (SICM) 領(lǐng)域的者，SICM 是一種迅速興起的掃描探針顯微鏡 (SPM) 技術(shù)，可對(duì)柔軟細(xì)膩的表面進(jìn)行納米級(jí)地形圖繪制。

該掃描離子電導(dǎo)顯微鏡 (SICM) 是的納米成像系統(tǒng)。它包括掃描頭、控制器和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。SICM 堅(jiān)固的機(jī)械設(shè)計(jì)可確保高精度測(cè)量。它可以用作立系統(tǒng)或與倒置光（或共聚焦）顯微鏡集成。圖像軟件提供多種支持模式和內(nèi)置系統(tǒng)功能，例如自動(dòng)浸沒、表面檢測(cè)、實(shí)時(shí)離子電流顯示、圖像形成時(shí)的實(shí)時(shí) 2D 和 3D 顯示。

掃描離子電導(dǎo)顯微鏡 (SICM) 的作用

圖像

海馬神經(jīng)元

SICM 在以下方面結(jié)合了樣品制備的簡(jiǎn)便性和非破壞性高分辨率成像：

• 活細(xì)胞和組織
• 人造結(jié)構(gòu)

措施

間充質(zhì)干細(xì)胞

SICM 特的電導(dǎo)反饋捕捉柔軟細(xì)膩表面的細(xì)節(jié)以了解：

• 形態(tài)變化
• 生理過程
• 表面化學(xué)

位置

金納米粒子-過氧化氫氧化

顯微鏡可以將探頭放置在成像的 3D 表面上，以執(zhí)行或同時(shí)生成以下地圖：

• 靶向膜片鉗
• 光學(xué)和電化學(xué)分析
• 與多種技術(shù)集成
• 材料的沉積和提取

掃描離子電導(dǎo)顯微鏡 (SICM) 系統(tǒng)的工作原理

掃描離子電導(dǎo)顯微鏡 (SICM) 獲取電解質(zhì)溶液中表面的形貌圖像。通過在樣品上掃描（玻璃或石英）納米移液器探針同時(shí)測(cè)量通過移液器的離子電流來創(chuàng)建圖像。當(dāng)探針接近樣品表面時(shí)，離子電流減��；當(dāng)離子電流下降預(yù)定量時(shí)記錄 Z 位置。

這種特的反饋機(jī)制使納米移液器能夠避免與樣品發(fā)生物理接觸——這意味著 SICM 特別適合對(duì)活細(xì)胞等軟樣品進(jìn)行成像。SICM 以非破壞性方式對(duì)其他系統(tǒng)會(huì)損壞的復(fù)雜特征進(jìn)行成像。

掃描離子電導(dǎo)顯微鏡應(yīng)用

系統(tǒng)組件

掃描頭

• 大掃描范圍和樣品臺(tái)行程范圍。
• 納米分辨率的定位。
• 系統(tǒng)噪音水平低。
• 易于使用移液器和樣品區(qū)。
• 適用于各種倒置顯微鏡。

控制器

• 接口控制和反饋信號(hào)。
• FPGA 為移液器定位和電流檢測(cè)提供信號(hào)處理。
• 輔助輸入允許來自外部設(shè)備的信號(hào)與閾值離子電流和移液器位置的檢測(cè)同步顯示。

用戶界面

• 用戶友好的界面允許輕松配置、控制、測(cè)量和顯示系統(tǒng)和數(shù)據(jù)。
• 具有搜索功能的數(shù)據(jù)庫。
• 動(dòng)態(tài) 2D 和 3D 圖像。
• 控制跳躍模式，也支持Approach Curve和Manual Approach操作